MICROSCOPIE E TECNICHE DI NANOCARATTERIZZAZIONE

Obiettivi formativi

Il corso fornisce all’allievo un adeguato supporto formativo relativamente alla fisica, alle caratteristiche e alle potenzialità delle diverse tecniche di microscopia (da quelle elettroniche a quelle di sonda), sia per esigenze di R&D che di processi industriali in cui si impieghino nanotecnologie o in cui comunque si richieda la conoscenza di informazioni e proprietà fino alla scala atomica. Durante il corso vengono anche fornite adeguate informazioni di base sulle principali tecniche di spettroscopia (basate sull’interazione radiazione-materia), in grado di completare la caratterizzazione di un materiale/sistema sulla nanoscala. In via generale, il corso ha l’obiettivo di fornire al laureato magistrale in ingegneria delle nanotecnologie le necessarie conoscenze per consentirgli la scelta delle tecniche e delle metodologie di nanocaratterizzazione ottimali all’interno dei processi e procedure che sarà chiamato a definire/progettare/fruire nell’ambito del suo profilo professionale. Il corso si prefigge di fornire gli elementi essenziali di ottica elettronica in grado di consentire allo studente di approcciarsi alle diverse tecniche di microscopia elettronica sia a scansione che in trasmissione. Vengono forniti gli elementi fisici alla base del contrasto per consentire la corretta interpretazione dei risultati. Vengono descritte le tecniche spettroscopiche alla base delle più diffuse metodologie analitiche. Il corso è completato da una panoramica sulle tecniche complementari, sulla microscopia ionica e sulle metodologie di preparazione dei campioni in modo da consentire allo studente la familiarità necessaria ad utilizzare queste metodologie in un contesto operativo. Il corso fornisce anche agli studenti gli elementi essenziali di microscopia a scansione di sonda, microscopia a forza atomica, microscopia ad effetto tunnel, e microscopia ottica in campo vicino. Vengono forniti elementi essenziali di tecniche basate su tali microscopie per la caratterizzazione di proprietà chimiche, strutturali, meccaniche, magnetiche, elettriche e termiche su scala nanometrica, con l’obiettivo di consentire allo studente la selezione di specifiche tecniche in base a specifici contesti applicativi. Gli obiettivi formativi sono espressi in termini di Descrittori di Dublino in grado di descrivere le conoscenze acquisite dallo studente le capacità di applicazione e la crescita in termini d capacità critica, di comunicazione e di approfondimento. Relativamente alla conoscenza acquisita ed all’ incremento della capacità di comprensione, il corso fornisce elementi in grado di rafforzare le conoscenze nel settore delle metodologie di indagine a micro- e nano-scala, in particolare sulle tecniche ottiche basate su elettroni e ioni e sulle tecniche a scansione di sonda mettendo lo studente in grado di elaborare o applicare idee originali e di inserirsi in un contesto di tecnologie avanzate e nell’ ambito della ricerca tecnologica. Relativamente alla capacità di applicare la conoscenza acquisita e la comprensione dei fenomeni connessi, le conoscenze acquisite forniscono allo studente gli strumenti operativi per affrontare e risolvere problemi nuovi e non familiari inerenti gli aspetti micro e nano strutturali delle nanotecnologie, anche quando inseriti in contesti ampi e interdisciplinari inerenti anche campi culturali contigui. Relativamente alla autonomia di giudizio, il corso fornisce gli elementi scientifici alla base delle tecnologie di indagine per cui lo studente diviene autonomo nella interpretazione dei dati sperimentali ed in grado di formulare un giudizio autonomo e non preconcetto sulle problematiche in esame. Il corso fornisce gli elementi necessari ad integrare le conoscenze acquisite in contesti più ampi al fine di interpretare e governare situazioni complesse e fornire giudizi ed interpretazioni anche in caso di informazioni parziali o incomplete, tenendo anche conto degli spetti etici e sociali connessi. Relativamente alla capacità di comunicare quanto si è appreso, il corso fornisce gli elementi sia semantici e di terminologia che concettuali in grado di consentire allo studente una proficua interazione, sia sulle tematiche stesse che sulle metodologie coinvolte, sia con gli specialisti del settore nell’ ambito di problematiche professionali che con soggetti non professionali nell’ ambito di interlocuzioni in cui le competenze specifiche dello studente siano basilari. Per quanto concerne la capacità di proseguire in maniera autonoma la propria formazione e specializzazione, il corso fornisce allo studente i principali strumenti interpretativi di successive letture ed esperienze in grado di consentire un proficuo ampliamento e focalizzazione delle competenze acquisite. Queste ultime possono essere così declinate: • conoscere le principali tecniche per la caratterizzazione livello nanometrico delle proprietà fisiche, chimiche e funzionali; in particolare le competenze acquisite riguarderanno le tecniche di: o microscopia elettronica per l’analisi morfo logica dei materiali fino alla scala atomica; o diffrazione per l’analisi strutturale dei materiali; o microscopia di sonda per l’analisi morfologica e per lo studio delle proprietà fisico-chimiche e di quelle funzionali fino alla scala nanometrica; o spettroscopia applicate allo studio delle proprietà funzionali dei materiali • comprendere i diversi meccanismi di interazione radiazione-materia ai fini del loro impiego nella caratterizzazione; • saper impostare un problema di caratterizzazione dalla meso- alla nanoscala, individuando le tecniche da utilizzare in rapporto anche al rapporto costi/benefici; • saper valutare i risultati conseguiti anche per la definizione di nuove procedure metrologiche; • saper lavorare in gruppo.

Canale 1
MARCO ROSSI Scheda docente

Programmi - Frequenza - Esami

Programma
Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM): Principi generali di funzionamento, ottica elettronica, interazione elettroni-materia; osservazioni in condizioni di contrasto di ampiezza e di fase; illustrazione delle principali tecniche di microscopia elettronica; criteri per la preparazione dei campioni; applicazioni in campo industriale, biotec ed elettronico. Diffrazione Elettronica (ED) e a raggi-X (XRD): Elementi fondamentali di cristallografia; principi generali difunzionamento delle tecniche diffrattive; illustrazione delle principali tecniche di diffrazione elettronica e a raggi-X; interpretazione degli spettri di diffrazione: informazioni contenute; applicazioni e criteri di scelta della tecnica in funzione del problema strutturale da risolvere. Microscopia Elettronica a Scansione (SEM): Principi di funzionamento, interazione elettroni materia erivelazione dei segnali, generazione dell’immagine, interpretazioni delle immagini associate ai segnali rivelati, criteri per la preparazione dei campioni; applicazioni. Microscopie di sonda a scansione (SPM): Architettura generale di un sistema di microscopia a sonda; la microscopia ad effetto tunnel (STM) e tecniche spettroscopiche ad essa collegate per la caratterizzazione elettronica dei materiali; la microscopia a scansione di forza (AFM) e le differenti tecniche di imaging (in contatto, tapping-mode, di fase, ecc); altre microscopie a sonda e loro applicazioni a particolari analisi quantitative e qualitative. Microanalisi a Dispersione di Energia (EDS): Principi di funzionamento; analisi qualitative; analisi quantitative; validazione statistica delle misure quantitative; tecniche e software per l’analisi di omogeneità del campione, di particelle, di elementi in tracce, di elementi leggeri e di rivestimenti; uso della tecnica in un TEM e in SEM; applicazioni. Analisi di Immagine: Tecniche di acquisizione, intensificazione e filtraggio delle immagini, al fine di identificare e quantificare la nanomicrostruttura tramite l’individuazione di bordi, tessiture,isolivelli, separazione morfologico-compositiva di oggetti; descrittori di forma, periodicità, analisi FFT, indice frattale. Tecniche spettroscopiche: fotoni (fotoluminescenza, catodoluminecenza, spettroscopia Raman), con gli elettroni (EELS), con fasci ionici; applicazioni.Case studies: Esempi di applicazione delle diverse tecniche di nanocaratterizzazione a casi reali di interesse tecnologico.
Prerequisiti
Non ci sono prerequisiti specifici diversi o complementari rispetto a quelli previsti per l'accesso alla Laurea Magistrale
Testi di riferimento
- Materiale didattico distribuito dal docente. - Handbook of microscopy for nanotechnology, Kluwer Academic Publishers. - Transmission Electron Microscopy - David B. Williams e C. Barry Carter, Springer Verlag (2009)
Modalità insegnamento
Il corso è organizzato in lezioni frontali. Sono previste 90 ore di lezioni frontali inclusive di esempi di problemi di nanocaratterizzazione nei diversi campi applicativi.
Frequenza
La frequenza alle lezioni e alle esercitazioni in aula, anche se non obbligatoria, è fortemente consigliata.
Modalità di esame
L'esame si svolge mediante: A) una prova scritta che deve vertere sugli aspetti fondamentali trattati durante il corso; B) una tesina su una tematica di interesse dell'allievo in cui si sviluppino approfondimenti relativi allo stato dell'arte. Si consiglia di scegliere la tematica insieme ad un collega del corso e poi sviluppare due diversi approfondimenti della stessa tematica. La tesina può essere presentata, a scelta dell'allievo, o come elaborato scritto o come presentazione tramite slide. C) una prova orale in cui verrà discussa la tesina e la prova scritta. La prova scritta ha durata di 2.5 ore. Le domande mirano a verificare l'avvenuta acquisizione delle conoscenze e dei concetti discussi nel corso. Inoltre, le domande possono essere basate su un caso scientifico reale, chiedendo l’analisi del problema e la discussione di quali approcci lo studente proporrebbe. Il punteggio della prova scritta (in trentesimi) viene calcolato sulla base della qualità delle risposte date e serve come base per il punteggio finale assegnato dopo la prova orale, inclusiva della presentazione e/o discussione della tesina. Nel complesso, la prova di esame ha lo scopo di valutare il livello che lo studente ha raggiunto nell'acquisire le competenze descritte negli obiettivi formativi, non solo da un punto di vista teorico ma anche in relazione alle simulazioni pratiche. Per stimolare la capacità di apprendimento e l’autonomia degli studenti, questi ultimi sono invitati a proporre e discutere ricerche bibliografiche supplementari. In questo modo, il docente verifica l’autonomi di giudizio e la capacità di proporre soluzioni ai problemi. Infine, saranno giudicate anche le capacità di comunicazione – sempre tenendo conto delle difficoltà che gli studenti potrebbero riscontrare nell’uso della lingua inglese. In particolare, la valutazione finale comprenderà i seguenti fattori: a) comprensione dei concetti trasmessi durante le lezioni, non solo dal punto di vista teorico ma anche in riferimento a situazioni pratiche “simulate” di problemi di caratterizzazione; b) capacità di apprendere in autonomia; c) capacità acribica in campo tecnologico e scientifico. d) abilità comunicativa.
Bibliografia
S.Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt, G. van Tendeloo: Electron Microscopy:Principles and Fundamentals; VCH, 1997, Ray F. Egerton: Physical Principles of Electron Microscopy. An Introduction to TEM, SEM, and AEM.; Springer 2005 V.L. Mironov: Fundamentals of scanning probe microscopy
Modalità di erogazione
Il corso è organizzato in lezioni frontali. Sono previste 90 ore di lezioni frontali inclusive di esempi di problemi di nanocaratterizzazione nei diversi campi applicativi.
LIVIA ANGELONI Scheda docente
  • Codice insegnamento1018601
  • Anno accademico2024/2025
  • CorsoIngegneria delle Nanotecnologie - Nanotechnology Engineering
  • CurriculumIngegneria delle Nanotecnologie
  • Anno1º anno
  • Semestre2º semestre
  • SSDFIS/01
  • CFU9
  • Ambito disciplinareChimica e fisica della materia